FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD на конференции в Петербурге!

21 Август 2019 года

18-19 сентября в Петербурге состоится международная конференция для производителей печатных плат.

В рамках конференции Вы сможете предоставить образцы для проведения измерений толщины и состава Ваших финишных покрытий печатных плат (иммерсионное олово, ENIG, ENEPIG, SnPb, гальваническое покрытие Ni/Au). Будет представлен рентгенфлуоресцентный спектрометр-толщиномер FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD, фирмы Helmut-Fischer (Германия). Прецизионный измеритель толщин с высокоточной программируемой X/Y платформой, возможностью перемещения по оси Z, высокопроизводительным измерительным и вычислительным модулем. 

Это универсальный прибор для широкого круга задач. Предназначен для автоматизированных измерений очень тонких покрытий, малых концентраций элементов, микроэлементов, сплавов, электролитов. 
 Области применения: 

•    измерения очень тонких покрытий (напр., золото/палладий ≤ 0,01 мкм);
•    анализ микроэлементов, в том числе на печатных платах;
•    измерение сложных многослойных покрытий;
•    измерения функциональных покрытий в электронной и полупроводниковой промышленности;
•    автоматизированные измерения (напр., в контроле качества).
Особенности: 

•    Современный SDD-детектор и система сменных коллиматоров и фильтров позволяют достигать высокой точности контроля.

•    Измерение и анализ очень тонких покрытий даже при очень сложных композициях или в небольших концентрациях элементов.
•    Программируемая X/Y-платформа и возможность перемещения по оси Z позволяет использовать этот универсальный прибор для автоматизированных измерений в области обеспечения качества и контроля производства.
•    Метод фундаментальных параметров позволяет проводить измерения твердых и жидких образцов без калибровки. 

Важно отметить, что данный прибор внесен в государственный реестр средств измерений.

Для регистрации на конференцию присылайте заявку на адрес ivanova@petrocom.ru Подробная программа мероприятия